CUBE-X 系列镀层测厚仪

功能：

1、测量方向：由上向下

2、镀层元素范围：Al铝～U铀

3、电压：50kV（1.2mA）

4、探测器（可选）：正比计数器、Si-Pin、SDD硅漂移

5、单准直器：0.3mmØ、0.5mmØ,

6、多准直器：0.1、0.2、0.3、0.5、0.05X0.05、0.05X0.25自动6位准直器

7、镀层层数：多至5层

8、测量点尺寸：圆形测量点，直径约0.2-0.8毫米

9、测量时间：30秒-180秒

10、样品仓尺寸：337mm (长)x 248mm(宽) x 100 mm (高)

11、仪器尺寸：350 mm(长)x 530mm(宽) x 320 mm (高)

12、同时定量测量8个元素。

13、定性鉴定材料达24个元素。

14、自动Z轴样品台

15、自动XY平台操控

16、摄像头：40X高清CCD摄像头